系統(tǒng)背景

隨著光電子技術(shù)和信息技術(shù)的發(fā)展，半導(dǎo)體激光器(LD)在光纖通信，信息存儲、光傳輸?shù)阮I(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用，作為系統(tǒng)的光源，LD 特性的優(yōu)劣直接影響著系統(tǒng)的性能。半導(dǎo)體發(fā)光器件LIV 光譜特性 ，需要精確地測試得到半導(dǎo)體激光器的LIV 特性曲線和光譜相關(guān)參數(shù)。

LS-VCS-SCI-LIV 科研用 LIV 光譜功率積分系統(tǒng)LIV 測試方案® 可以為客戶提供LD/LED 光電特性檢測定制化解決方案，實現(xiàn)對LD/LED 單體、模組、及芯片的LIV、EIV、TIE、PCE、光譜波長及功率測量等。

系統(tǒng)介紹

LS-VCS-SCI-LIV 精密溫控型多功能光譜功率積分測試系統(tǒng)由泰克與合作單位專門針對基于脈沖LD/LED 測試研發(fā)而成，該系統(tǒng)可用于對LD/LED 光電特性檢測，以保證LD/LED 脈沖激光輻射光譜滿足器件光學(xué)功能和人眼安全應(yīng)用需求。

LS-VCS-SCI-LIV 精密密溫控型多功能光譜功率積分測試系統(tǒng)主要針對LD/LED 的芯片和模組的光電特性測量，根據(jù)/LD/LED 的發(fā)散角和輸出功率測量要求，可選擇不同規(guī)格的積分球，積分球內(nèi)徑尺寸分為：2 寸、4 寸、6 寸。積分球帶已標(biāo)定功率探頭，由于LD/LED發(fā)熱量大，溫度對LD/LED 輸出功率和輸出光譜波長有很大的影響，因此需要對樣品控溫，配置溫度控制模塊，控溫范圍-50℃ ~+225℃可選。

方案特點

• 光譜峰值波長和半高全寬（FWHM）測量：400-1100nm，F(xiàn)WHM:0.1nm，最快可實現(xiàn)2kHz 數(shù)據(jù)采集
• 激光功率測量，最快可實現(xiàn)每秒100k 采樣點
• 強大的分析專用軟件可以掃描測量LIV 曲線，PCE曲線，溫度- 峰值波長- 光功率曲線
• 可設(shè)置掃描精度和速度，可測量光電轉(zhuǎn)換效率，自動保存測試數(shù)據(jù)
• 采用四線測量方法，實時記錄實測電流、電壓值，功率值，測試更準(zhǔn)確
• 程序可設(shè)置連續(xù)及脈沖掃描兩種模式
• 壽命老化檢測功能：在恒定或脈沖條件下（電流、溫度），每隔指定時間間隔測試記錄一次光譜和功率數(shù)據(jù)

具體測試軟件界面如下：

L-I-V 光譜掃描

溫度、峰值波長、光功率掃描曲線

系統(tǒng)配置

Keithely 2601B/2602B        大功率高精度電流源

Keithely 2651

Keithely DMM7510               高精度高速數(shù)字萬用表

Keithely 2510                    高精度數(shù)字溫度控制器

LS-VS-SPEC-IRR-50            光譜功率積分球模塊

LS-VS-SPEC-IRR-100

LS-VS-SPEC-IRR-150

LS-VS-SPEC-IRR-OEM

LS-VS-PRB-HM                  手動探針臺裝置

LS-VS-STAGE LED/LD        樣品固定支架平臺

LS-OPT-2412                    光學(xué)防震平臺

LS-VS-TEC                        工業(yè)用高低溫溫度控制器

LS-VS-CTRSYS-IND              集成硬件控制平臺

LS-VS-CTRSYS-Soft           軟件測量控制平臺